產(chǎn)品列表 / products
3-21
美國ACL-380表面電阻測(cè)試儀的使用方法美國ACL-380表面電阻測(cè)試儀是測(cè)試物體表面電阻值的一種儀器。測(cè)量精度高，操作簡(jiǎn)單，攜帶方便，是測(cè)量表面電阻率理想的選擇。表面電阻測(cè)試儀是通過測(cè)量防靜電產(chǎn)品表面的電阻，從而檢測(cè)防靜電產(chǎn)品的防靜電能...
12-19
TBQ-2總輻射表的測(cè)量原理1、TBQ-2總輻射表由雙層石英玻璃罩、感應(yīng)元件、遮光板、表體、干燥劑等部分組成。TBQ-2L型總輻射表感應(yīng)元件是該表的核心部分，它由快速響應(yīng)的繞線電鍍式熱電堆組成。感應(yīng)面涂3M無光黑漆，感應(yīng)面為熱結(jié)點(diǎn)，當(dāng)有陽光...
5-11
重錘式表面電阻測(cè)試儀的原理和使用方法重錘式表面電阻測(cè)試儀是一款小巧輕便,低能耗的靜電電阻測(cè)試儀,可測(cè)量物體的表面電阻,表面電阻率,體積電阻,接地電阻。重錘式表面電阻測(cè)試儀測(cè)量精度高，速度快，使用方便，特別適用于要求高的實(shí)驗(yàn)室和自動(dòng)檢測(cè)線上使...
4-17
重錘式靜電電阻測(cè)試儀工作步驟的剖析與見解重錘式靜電電阻測(cè)試儀是測(cè)量物體表面靜電值和測(cè)量靜電消除設(shè)備的離子平衡度。其中有一款靜電場(chǎng)測(cè)試儀，他是一非接觸式手提靜電場(chǎng)測(cè)量?jī)x，外殼的材質(zhì)是防靜電質(zhì)地，并且設(shè)置了一個(gè)接地扣，確保儀器測(cè)量出來的數(shù)據(jù)接近...
3-23
1：產(chǎn)品名稱：Cat5e工業(yè)相機(jī)連接電纜（高柔移動(dòng)型）應(yīng)用范圍：RJ45標(biāo)準(zhǔn)接口的工業(yè)相機(jī)產(chǎn)品特征：1.電纜符合Cat5e通信標(biāo)準(zhǔn)，采用柔性拖鏈材料及特殊結(jié)構(gòu)，可在移動(dòng)環(huán)境下使用2.日本廣瀨的RJ45接頭，一端帶螺絲可固定安裝，移動(dòng)場(chǎng)合zu...
3-23
1：產(chǎn)品名稱：Cat5e工業(yè)相機(jī)連接電纜（高柔移動(dòng)型）應(yīng)用范圍：RJ45標(biāo)準(zhǔn)接口的工業(yè)相機(jī)產(chǎn)品特征：1.電纜符合Cat5e通信標(biāo)準(zhǔn)，采用柔性拖鏈材料及特殊結(jié)構(gòu)，可在移動(dòng)環(huán)境下使用2.日本廣瀨的RJ45接頭，一端帶螺絲可固定安裝，移動(dòng)場(chǎng)合zu...
3-14
小型太陽氣象站技術(shù)特點(diǎn)與注意事項(xiàng)1.系統(tǒng)具有標(biāo)準(zhǔn)通訊接口可與微機(jī)連接實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)下載，即可用微機(jī)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)，又可獨(dú)立運(yùn)行顯示、存儲(chǔ)氣象要素值。2.具有無線網(wǎng)絡(luò)通訊功能，配無線通訊器通過GSM網(wǎng)/GPRS網(wǎng)可實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)距離布網(wǎng)監(jiān)測(cè)或異地遙測(cè)數(shù)據(jù)。不...
3-13
SIMCO為zui大靜電控制設(shè)備制造商，自1936年起，我們?yōu)闊o數(shù)不同種類的工業(yè)客戶解決靜電問題。在踏入第六個(gè)十年，SIMCO在的工廠皆能獲得ISO9001的認(rèn)可。2011年SIMCO母集團(tuán)收購其競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手美國ION公司，組成新的SIMCO-...
2-22
紅外熱像儀是利用紅外探測(cè)器和光學(xué)成像物鏡接受被測(cè)目標(biāo)的紅外輻射能量分布圖形反映到紅外探測(cè)器的光敏元件上，從而獲得紅外熱像圖，這種熱像圖與物體表面的熱分布場(chǎng)相對(duì)應(yīng)。通俗地講紅外熱像儀就是將物體發(fā)出的不可見紅外能量轉(zhuǎn)變?yōu)榭梢姷臒釄D像。熱圖像的上...
2-22
一.調(diào)整焦距您可以在紅外圖像存儲(chǔ)后對(duì)圖像曲線進(jìn)行調(diào)整，但是您無法在圖像存儲(chǔ)后改變焦距，也無法消除其他雜亂的熱反射。保證*時(shí)間操作正確性將避免現(xiàn)場(chǎng)的操作失誤。仔細(xì)調(diào)整焦距！如果目標(biāo)上方或周圍背景的過熱或過冷的反射影響到目標(biāo)量測(cè)的性時(shí)，試著調(diào)整...
